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飞秒激光剥蚀进样系统
激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统(LA-LIBS)一、技术背景J200飞秒激光进样系统来自美国应用光谱公司(ASI
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安捷伦 ICP-MS 激光剥蚀
安捷伦 ICP-MS 系统可无缝连接所有前沿的激光剥蚀 (LA) 系统,为固体样品提供高性能 LA-ICP-MS 分析。LA-ICP-MS 非常灵活,支持高分辨率成像、微米级原位元素和
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RESOlution 全自动激光剥蚀进样系统
RESOlution 全自动激光剥蚀进样系统这种独特的设计确保您的样品尽可能快速,高效地到达ICP,Laurin Technic激光剥蚀样品池由先前在ANU工作的Mike Shelley开发
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J200飞秒激光剥蚀进样系统
J200飞秒激光剥蚀进样系统是ASI公司的技术团队拥有30多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背景,系统通过非热过程,施加超高激光辐射剥蚀样品,产生的颗粒能在ICP源完全
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J200飞秒激光剥蚀进样系统
J200LA-fs剥蚀均匀一致,剥蚀的样品颗粒能代表样品的化学特性,无需高度匹配的标准物质,也能进行高精度、定量LA-ICP-MS测量。
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J200飞秒激光剥蚀进样系统(LA)
J200飞秒激光剥蚀进样系统将飞秒激光源技术可靠性提升到一个新高度,系统采用了一种自动调高传感器,该传感器的设计考虑到了样品表面的形态变化。
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J200飞秒激光剥蚀进样系统(LA)
J200飞秒激光剥蚀进样系统(LA)的技术研发均为美国劳伦斯伯克利国家实验室的科研人员,研发的理念就是使元素化学分析简单快速化,测量结果精确化,分析过程绿色化,设备采用了一种自动调高传感器,该传感器
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冷柱头进样口
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芯硅谷 微量进样器
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芯硅谷微量进样瓶
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