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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜JEM-ARM300F实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,zei高加速电压可达
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JEM-ARM200F冷场发射球差校正透射电镜
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JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨分析型球差校正透射电镜
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日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜JEM-ARM300F实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,zei高加速电压可达
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CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 场发射冷冻透射电子显微镜
CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜,专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品,可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。与上一代CRYO ARM
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日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜 大范围的加速电压设置
镜筒增加了机械刚度, 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上,把电气稳定性和对环境的抗干扰能力提高到新高度。实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率JEM-ARM300F配备
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日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜 分辨率达到了63pm
损伤。高稳定的镜筒和样品台整体稳定性高、直径330mm的镜筒增加了机械刚度, 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上,把电气稳定性和对环境的抗干扰能力提高到新高度。实现了世界zei高扫描透射像
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日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜 JEOL自主研发的球差校正器
产品特点:实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器,zei高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界
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日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜 强大的冷场发射电子枪HyperCF300
线分辨率0.06nm使用TEM校正器非线性信息分辨极限0.06nm非线性信息分辨极限0.08nm线性信息分辨极限0.09nm线性信息分辨极限0.12nmJEM-ARM300F GRAND ARM 透射
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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜
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