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CAMECA全自动在线二次离子质谱仪AKONIS
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CAMECA二次离子质谱仪IMS Wf和SC Ultra
可充分满足高级半导体对动态SIMS测量日益增长的需求该仪器可提供大范围的冲击能量(150 eV到13 keV),不影响质量分辨率和一次离子束密度,可确保在高通量条件下为具挑战性的应用提供卓越的分析性能
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CAMECA二次离子质谱IMS 7F-GEO
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Hiden SIMS Workstation二次离子质谱仪
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CAMECA 二次离子质谱仪SIMS 7F-AUTO
具有高深度分辨率和高动态范围的深度剖析功能。高透射质谱仪与两种反应性高密度离子源(O2+和Cs+)相结合,从而提供高溅射速率和极低的检出限。
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MAXIM二次离子/溅射中性粒子质谱仪
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CAMECA 大尺寸几何结构二次离子质谱仪IMS 1300-HR3
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等离子质谱仪PerkinElmer
限,更快的分析速度和更简单、更贴近客户的操作软件,这是市场上任何其他ICP-MS仪器所无 法企及的。 独一无二的三锥接口(Triple Cone Interface)设计和四极杆离子偏转器
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CAMECA KLEORA地质年代研究专用离子探针
KLEORA在新一代超高灵敏度大尺寸几何结构IMS 1300-HR³离子探针基础上开发而成,在高通量、易于使用的平台上为原位U-Th-Pb同位素分析提供基准灵敏度。
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TOF-qSIMS 飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS
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