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安捷伦 用于超痕量分析的自动进样器 (I-AS)
安捷伦集成自动进样器 (I-AS) 是一种清洁型带盖 ICP-MS 自动进样器,用于半导体样品的超痕量分析以及通过安捷伦 ICP-MS 系统执行的其他痕量金属应用。I-AS 是半导体分析
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8697 具有多种优势和先进的硬件特性,微通道 EPC(电子气路控制)模块具有大气压补偿和阀进样功能,可提供前所未有的精度和性能。
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cGBS-2030气袋进样器具有操作便利性、轻量小型化、广泛兼容性等特点,适用于环境大气样品及石化行业气体样品自动进样。
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