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百欧林Theta Lite光学接触角测量仪(水滴角测量仪)
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HELIOS标准光源系统
HELIOS标准光源系统为满足您的特殊需求而设计的模块化的光学校准系统· 摄像机、传感器和焦平面阵列· 多光谱和高光谱成像· 小卫星的成像· 对地观测系统· SWIR 波段科学与成像· 侦察与警戒
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F50 光学膜厚测量仪
F50薄膜厚度测量仪自动化薄膜厚度绘图系统依靠F50先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度
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