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MPMS3磁学测量系统
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MPMS3磁学测量系统磁学测量系统 应用于纳米材料
Quantum Design磁学测量系统MPMS3可以用在纳米材料行业领域,用来检测材料,可完成介电测量项目。符合多项行业标准Nature Vol420 Page392-395。 MPMS3
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Quantum Design磁学测量系统MPMS3 适用于介电测量
Quantum Design磁学测量系统MPMS3适用于介电测量项目,参考多项行业标准Nature Vol420 Page392-395。可以检测材料等样品。可应用于航空/航天行业领域
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MPMS3磁学测量系统Quantum Design 应用于电子/半导体
Quantum Design磁学测量系统MPMS3可以用在纳米材料行业领域,用来检测材料,可完成介电测量项目。符合多项行业标准Nature Vol420 Page392-395。 MPMS3磁学
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Orion AQ4001 COD测量系统
仪器简介:AQ4000 比色计配合COD 试剂和COD165 消解器即可完成COD 测量。技术参数:COD 测量量程: 0-150mg/L,0-1500mg/L,0-15000mg/L
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低温强磁场光探测磁学成像系统attoCSFM
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XDimensus 300测量用X射线CT系统
XDimensus 300“新维度” 测量XDimensus 300是测量用X射线CT系统,可用于对样件内部结构尺寸的测量。 本机除采用性能卓越的高分辨率大视野检出器、(与本司以往产品相比) X射线
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瑞士梅特勒托利多浊度测量系统
zei大检测范围可达250g/l,电极采用逆向散射原理,能在较高的浊度范围内提供精确可靠的测量。广泛应用于发酵,结晶及污水处理中。 产品分为浊度传感器和浊度变送器。 浊度探头采用
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磁学测量系统磁学测量系统Quantum Design PPMS上的介电测量
Quantum Design磁学测量系统MPMS3适用于介电测量项目,参考多项行业标准Nature Vol420 Page392-395。可以检测材料等样品。可应用于多个行业领域
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Quantum Design磁学测量系统磁学测量系统 应用于航空/航天
Quantum Design磁学测量系统MPMS3可用于测定材料,适用于介电测量项目。并且参考多项行业标准Nature Vol420 Page392-395。可应用于高分子材料行业领域
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