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梅特勒超越系列熔点仪MP系列,热分析仪(MP50/MP70/MP90)
梅特勒-托利多MP系列的毛细管熔点仪融合了几十年的制造经验和zei新的创新技术,通过透射光自动测量和反射光视频摄像,集熔点自动测定和同步视频观察于一身。可准确测定熔点或熔程,并可
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安捷伦 MP-AES 软件 MP Expert微波等离子体软件
所有安捷伦 MP-AES 仪器均随附 MP Expert 软件,使您的分析过程尽在掌控。该软件包括 FLIC 背景校正等专有功能,可确保您始终获得正确的结果。从方法设置到结果处理的每一步
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安捷伦 4210 MP-AES
Agilent 4210 MP-AES 是一款高灵敏度原子发射光谱仪,是传统火焰原子吸收光谱 (AAS) 技术的理想替代产品。MP-AES 仪器利用微波等离子体,并使用空气运行,而无需可燃
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Agilent 4210 MP-AES
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SPM300系列半导体参数测试仪
设备概览基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪,具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析,空间分辨率< 800nm (典型值),也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性
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SPM600系列半导体参数分析仪
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑
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Nexera MP自动进样器
为了加强药代动力学领域(药品生产)的研发,高速高精确度地分析大量的样本变得越来越有必要。针对这些需求,新问世的Nexera MP 超高效液相色谱仪应用了SIL-30ACMP多样品架
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Nexera MP LCMS前端用超快速LC
SIL-30ACMP保持了在Nexera上实现的极低交叉污染,进样动作超快速性能也超越了以往机型。并且zei多可以设置6枚微量样品板,实施2304个样品的连续分析。 Nexera MP系统
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半导体器件参数测试仪系统
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卓立汉光半导体参数分析仪SPM600系列
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑,实现百微米级探测器
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2023仪器产业营收超1万亿,这些仪器公司增长显著
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