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多功能离子减薄仪
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Gentle Mill离子减薄仪/离子精修仪
Gentle Mill 离子精修仪专为最终抛光、精修和改善 FIB 处理后的样品而设计。非常适合要求样品无加工痕迹、表面几乎没有任何损坏的 XTEM、HRTEM 或 STEM 的用户。
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离子减薄仪
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离子减薄仪
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精密离子减薄仪
仪器简介:离子减薄仪(Precision Ion Polishing System ):为整套TEM样品制备的zei后一道工序,经氩离子减薄的样品可在TEM 下直接观察。GATAN型号
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赛默飞(原FEI)Aquilos 2 Cryo-FIB冷冻聚焦离子束显微镜
程度的样品冰污染,损坏和相关精度的损失。制备没有切割伪影的更薄的冷冻超薄切片。离子束减薄能够制备无压缩的冷冻超薄切片样品,以进行透射断层成像。使用冷冻聚焦离子束减薄可以有效地避免伪影的产生,而使用冷冻
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进口离子减薄机
离子减薄机应用于制备具有大面积电子穿透区的样品,整台仪器设计 紧凑,减薄及抛光过程完全程序控制,两个独立可调的中空阳极放电 离子源可进行快速离子减薄(气流自动控制)或渐进式样品抛光
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多功能离子束研磨仪 Leica EM RES101
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Leica/Bal-Tec 离子减薄仪
仪器简介:全计算机控制的多功能离子减薄系统,有高度的灵活性.技术参数:减薄角度可调由0º至90º 主机内置2级泵,确保高真空主要特点:减薄角度可调由0º至90º 一体化设计
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Leica/Bal-Tec 离子减薄仪
率减薄,也可以慢速减薄制备高分辨透射电镜(HRTEM)样品。 减薄参数可以大范围调整 RES101 用了两个离子源,相对设置,这样在加工样品时既可以单面加工也可以双面加工。减薄角度0°~90
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