-
In-situ series 在线椭偏仪
-
椭偏仪 SE200BM
DUV-VIS光源,能够应用在很宽的波段内 · 基于阵列设计的探测器系统,以确保快速测量 · zei多可测量12层薄膜的厚度及折射率 · 能够用于实时或在线的监控光谱、厚度及折射率等参数
-
UVISEL 2 VUV 真空紫外椭偏仪
专为VUV 测量设计,整个系统处于真空状态,无氧气吸收。具备高度准确性;独一无二的超快测量速度;快速样品室抽真空能力,方便快速更换样品;氮气消耗量少。
-
HORIBA.AutoSE.全自动快速椭偏仪
一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。
-
美国AST椭偏仪SE200BM
-
美国AST椭偏仪SE200BM
-
HORIBA UVISEL Plus研究级经典型椭偏仪
微米。此外,还可以测试材料的反射率及透过率。 技术参数: * 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至2100nm) * 微光斑可选50μm-100μm-1mm
-
Film Sense FS-1™多波长椭偏仪
-
HORIBA UVISEL Plus研究级经典型椭偏仪
-
HORIBA Smart SE智能型多功能椭偏仪
多功能性设计,配置灵活,具备多角度测量能力,可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单,快速,精确表征和分析的工具。
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net