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SRM100薄膜成像测量系统
仪器简介: 快速和低成本的薄膜成像测厚系统,zei大能够实现对直径为300mm wafer 进行测试,广泛应用于:半导体 多晶硅, GaAs, GaN, InP, ZnS, SiGe
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薄膜太阳能电池材料光谱响应测量系统
薄膜太阳能电池材料光谱响应测量系统 ■ 光谱测量范围:200-1100nm ■ 测量重复性:≤3%(主要波长位置) ■ 光源:高稳定、高输出能量
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光致发光光谱成像测量系统
PMEye-3000光致发光光谱成像(PL-Mapping)测量系统是卓立汉光zei新研制的,用于LED外延片、半导体晶片、太阳能电池材料等,在生产线上的质量控制和实验室中的产品
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MacroPATH 大体数字成像系统
专为记录大体组织取材过程的软硬件结合的系统,可拍照、摄像及录音,配合高清晰度数码相机可获得高质量图片,与软件结合使用可编辑及测量图片,为临床、教学、研究提供无价的诊断数据库。MacroPATH直观
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F40薄膜厚度测量仪
Filmetrics-F40薄膜厚度测量仪-膜厚仪 结合显微镜的薄膜测量系统Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系统
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F32 薄膜厚度测量仪
F32薄膜厚度测量仪在线测量的解决方案使用F32可以简单快速地在线测量膜厚。从对膜的顶部和底部反射光谱进行分析可得到实时厚度信息。F32先进的光谱分析系统采用半宽的3U rack-mount底盘
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F20 薄膜厚度测量仪
Filmetrics F20 薄膜厚度测量仪测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数,还是想要知道材料的反射率和透过率,F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟
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F54 薄膜厚度测量仪
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MacroVIEW 尸解大体数字成像系统
MacroVIEW特别为满足尸体解剖和法医病理学诊断中,捕捉和存储全部和部分尸体以及大器官系统的数字图像的需求而设计,尤其适用于犯罪现场调查和灾害罹难者身份识别。容易操作,拥有刑侦解剖所必需的持续和
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Agilent 8700 LDIR 激光红外成像系统
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