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TF200光学膜厚仪
仪器介绍 TF200薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线。TF200根据反射回来的
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F50 光学膜厚测量仪
需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。可测样品膜层基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括:选择Filmetrics的优势• 桌面式薄膜厚度测量的全球
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显微分光膜厚仪
OPTM 系列显微分光膜厚仪头部集成了薄膜厚度测量所需功能通过显微光谱法测量高精度绝对反射率(多层膜厚度,光学常数)1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外)区域传感器的安全机制易于
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OPTM 半导体膜厚测试仪
item· 绝对反射率测量· 膜厚解析· 光学常数解析(n:折射率、k:消光系数)构成图半导体膜厚测试仪OPTM 式样Specifications※ 上述式样是带有自动XY平台。※ release
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膜厚测量仪FE-3
稳定性白色LED光源测量项目多层膜膜厚解析用途光学薄膜(硬涂层,AR膜,ITO等)FPD相关(resist,SOI,SiO2等)膜厚量测仪FE-3测试实例
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膜厚测量仪FE-300
膜厚量测仪FE-300的特点测试范围涵盖薄膜到厚膜基于绝对反射率光谱分析膜厚小型・低价,精度高无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手外观新颖,操作性提高非线性*小二乘法,实现光学常数解析(n:折射率
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光学膜厚仪
、色度 波长范围:380-1000nm 膜厚精度:1nm 厚度范围:300-400,000 Angstrom (依样品不同而异) 检测速度:1-3 sec 检测平台:10cm
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反射式膜厚测量仪FE-3000
反射式膜厚量测仪的产品特点完美对应紫外到近红外(190~1600nm)广波长范围。利用高分辨率传感器,可对应厚膜以及超厚膜样品类型:0.8~1mm利用非线性*小二乘法薄膜解析软件,可解析多层薄膜的膜
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日本KETT 膜厚计 LZ-990
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膜厚监测仪
产品简介:EQ-TM106膜厚监测仪是采用石英晶体振荡原理,结合先进的频率测量技术,进行膜厚的在线监测。主要应用于MBE、OLED热蒸发、磁控溅射等设备的薄膜制备过程中,用于对膜层厚度及镀膜速率进行
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