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WinWInTec白光干涉形貌仪
应用领域:Wafer晶片,微流控系统,金刚石工具,汽车气缸,光学镜片,金属表面,机身外观(汽车),粗糙度标准片。详情见产品手册。technology measurement principle
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Xper WLI 白光干涉仪
Xper WLI 白光干涉仪 Xper WLI 白光干涉仪Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器
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白光干涉三维光学轮廓仪
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中图白光干涉三维轮廓仪
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Solarius Viking三维形貌白光干涉仪
快速生成三维表面形貌。直观和易于操作的系统软件是VIKING测量系统的另一个关键特点: 新的操作员只需花费很短的时间来熟悉软件就可以在短时间内执行更多的测量。一旦建立并保存模板后, 测量和数据分析过程
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优可测白光干涉仪-三维形貌测量
白光干涉仪AM7000系列搭配大量程高速纳米压电陶瓷器件,精度高达亚纳米级,3200Hz加以SST+GAT算法,可瞬间完成500万点云采集,在线检测快至1秒,可测粗糙度、台阶、轮廓、三维形貌等。
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日立白光干涉显微镜VS1800
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徕卡显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统
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WIVS-Ⅲ型白光干涉三维轮廓测量仪
)垂直扫描白光干涉干涉(VSI) 四、性能指标(基本配置) (1)垂直测量范围 0~50µm (2)垂直分辨率 1nm (3)测量区域 0.32mm×0.24mm (4)显微镜数值孔径
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WIVS-II型 垂直扫描白光干涉表面轮廓测量仪
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