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在线镀层测厚仪
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XRF痕量元素分析及镀层测厚仪
仪器简介: 运用X 荧光原理实现痕量元素分析及镀层厚度测量。应用于: -有害元素痕量分析 -焊料合金成分分析和镀层厚度测量 -电子产品中金和钯镀层的
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X荧光镀层测厚仪
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XRF镀层测厚仪FT230
概要:FT230台式XRF分析仪的设计大大减少了进行测量的时间。日立工程师意识到样品的设置和测量配方的选择往往会耗费大量的时间,因此推出了一个有着突破性的分析仪,其可以有效地 "设置 "自己,使得
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XRF镀层测厚仪FT160
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Milli-Q® IQ Element 痕量元素分析专用超纯水
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X荧光镀层测厚仪 Thick 600
。 Think600镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便
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XRF镀层测厚仪X-Strata920
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X荧光镀层测厚仪 Thick 800A
Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。
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XRF镀层测厚仪FT100A/FT110A
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