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X射线荧光镀层厚度测量SFT9500
X射线发生系统为X射线聚焦光学系统(聚焦导管)与X射线源相结合,并且可以照射出实际照射直径为0.1mmφ以下高强度的X射线束。为此,可以对以往X射线荧光镀层厚度测量仪由于照射强度不足而无法得到理想
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X射线荧光镀层厚度测量SFT9500
X射线发生系统为X射线聚焦光学系统(聚焦导管)与X射线源相结合,并且可以照射出实际照射直径为0.1mmφ以下高强度的X射线束。为此,可以对以往X射线荧光镀层厚度测量仪由于照射强度
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X射线荧光镀层厚度测量仪 SFT9500
RoHS&ELV法规所限制的有害元素的分析测量也十分有效。 技术参数:SFT9500产品规格 可测量元素 原子序数13(Al)~83(Bi) X射线聚光 聚光方式 X射线源 管电压:50kV
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X荧光镀层测厚仪
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X荧光镀层测厚仪 Thick 600
。 Think600镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便
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天瑞仪器 金属镀层的厚度测量 X荧光镀层测厚仪 Thick 800A
Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。
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X荧光镀层测厚仪 Thick 800A
Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。
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XDimensus 300测量用X射线CT系统
XDimensus 300“新维度” 测量XDimensus 300是测量用X射线CT系统,可用于对样件内部结构尺寸的测量。 本机除采用性能卓越的高分辨率大视野检出器、(与本司以往产品相比) X射线
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ARL Optim’X波长色散X射线荧光光谱仪
Scientific AROPTIM'X 硫分析仪是一款紧凑、快速、可靠的波长色散荧光光谱仪,并配置了专用固定分析通道。Thermo Scientific AROPTIM'X 水泥分析仪可对
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ARL Optim’X 波长色散X射线荧光光谱仪
Scientific ARL OPTIM'X 分析仪是一款紧凑、快速、可靠的波长色散荧光光谱仪,并配置了专用固定分析通道。 Thermo Scientific ARL OPTIM'X 水泥分析仪可对
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