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SPM300系列半导体参数测试仪
设备概览基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪,具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析,空间分辨率< 800nm (典型值),也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性
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SPM600系列半导体参数分析仪
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑
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卓立汉光SPM600系列半导体参数分析仪
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑,实现百微米级探测器
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卓立汉光半导体参数分析仪SPM600系列
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑,实现百微米级探测器
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卓立汉光SPM300系列半导体参数分析仪
光谱仪, 1*10-5 杂散光抑制比SPM300系列半导体参数分析仪主要应用SPM300系列半导体参数分析仪选型表型号描述SPM300-mini基础款半导体参数分析仪,只含一路532nm 激光器,常规
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默克 Supelco® Prove系列实验室多参数水质分析仪
Spectroquant® Prove系列的仪器和测试试剂盒具有多个重要功能,因此提高了水质分析的效率和可靠性,这些功能包括:· 实时自动识别(Live ID)功能,这是一种新型
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ZEM15原位拉伸-扫描电镜
ZEM15原位拉伸扫描电镜基于自主研发的台式扫描电镜,集成原位拉伸样品台,对样品进行原位拉伸/压缩/弯曲的过程中实时观察样品表面形貌的变化。
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ZEM18台式扫描电镜
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半导体器件参数测试仪系统
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塞贝克系数/电阻测量系统
/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点,塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。 产品特点:♦ 拥有温度控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器
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