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椭偏仪堀场HORIBAUVISEL 可检测AIN
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可用于测定AIN,适用于光学特性项目。并且参考多项行业标准0。可应用于电子/半导体行业领域。 技术参数
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Si片外延AIN薄膜 (Si+AlN dia4")
产品名称:Si片外延AlN膜产品简介:Si片外延AlN膜是通过HVPE方法生长,其实验衬底效果已日渐取代AlN单晶基片技术参数:AlN厚度:200nm ±10%, 单面镀膜正面
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玉研仪器 小动物果冻(水凝胶
动物繁殖性能及术后恢复能力,也可改善动物健康照护和福利条件。 主要规格: · GEL-76A:基于AIN76A的水食同源凝胶,营养全面,可长期喂养。 · GEL-1702:营养
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Klaran UVC LED
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HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 椭偏仪 使用MM-16椭圆偏振光谱仪表征AIN的光学特性
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成AIN的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的光学特性项目。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振
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小型1000℃RTP炉OTF-1200X-4-RTP
可延长其使用寿命。2、石英样品架固定在滑动法兰上,使样品装载更加容易。3、样品架上放置76mm(3")的AlN基片,承载需要退火的样品。AIN具有很高的热导率,可使样品放置的区域有很好的温度均匀性
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堀场HORIBAUVISEL 椭偏仪 适用于光学特性
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 用于测定AIN,符合行业标准0。适用光学特性项目。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振
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堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 应用于电子/半导体
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成AIN的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的光学特性项目。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振
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霍尔效应测试仪
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Joule Yacht 薄膜热导率测试系统 TCT-RT
,确保绝缘层不漏电;衬底热导率要远大于薄膜热导率,推荐使用Si、AIN等高热导衬底。主机尺寸710 x 600 x 490,单位mm重量80kg
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