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CAMECA二次离子质谱仪IMS Wf和SC Ultra
可充分满足高级半导体对动态SIMS测量日益增长的需求该仪器可提供大范围的冲击能量(150 eV到13 keV),不影响质量分辨率和一次离子束密度,可确保在高通量条件下为具挑战性的应用提供卓越的分析性能
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CAMECA KLEORA地质年代研究专用离子探针
KLEORA在新一代超高灵敏度大尺寸几何结构IMS 1300-HR³离子探针基础上开发而成,在高通量、易于使用的平台上为原位U-Th-Pb同位素分析提供基准灵敏度。
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CAMECA ACTINIS - 带屏蔽功能的IMS
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CAMECA二次离子质谱IMS 7F-GEO
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CAMECA二次离子质谱仪QUAD4550高深度分辨率超低能量四极杆SIMS
为光学器件中的硅、高k、硅锗以及III-V族化合物等复合材料的薄层提供超浅深度剖析、痕量元素和组分测量等一系列扩展功能。
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CAMECA工业级三位原子探针EIKOS
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CAMECA 大尺寸几何结构二次离子质谱仪IMS 1300-HR3
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CAMECA LEAP 6000 XR三维原子探针
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CAMECA Invizo 6000 三维原子探针
其超宽视场飞行路径和独特的双光束深紫外激光脉冲系统使单样本产量更高、分析量更大、重建保真度更高,可从每个数据集获得更多信息
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CAMECA 纳米离子探针质谱仪NanoSIMS 50L
一款独特的离子探针,在高横向分辨率下优化了SIMS分析性能。该仪器的开发借鉴了一次离子束和二次离子提取的同轴光学设计以及具有多接收功能的原始扇形磁质量分析仪。
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