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jandel半导体专用检测仪器设备 RM3000 山东
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Jandel probes 四探针探头
Jandel公司生产的cartridge型四探针探头可用在客户已有的设备,一些vekko设备,一些vekk设备需要不同形状的探头,(紧凑的探头).当您无法确定使用哪种探头时,请跟我们联络.所有
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英国Jandel四探针测试仪
Jandel公司提供的RM300测试单元结合可调节高度支架探头,可为各种各样的测量提供解决方案.这种组合方式是目前Jandel公司最受欢迎的产品.该系统可用于测量各种薄层的小尺寸样本以及直径
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QCW 半导体激光堆栈
QCW 半导体激光器基于独到的LD Bar 条封装技术,Quantel 提供准连续(QCW)、连续(CW)激光二极管堆栈及模块,所有模块都采用可靠的传导散热技术;同时,Quantel
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jandel RM3000 半导体专用检测仪器设备
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Jandel RM3000 四探针控制器
型号RM3000测量单位1×10(-3)~5×10(8)Ω/□;1×10(-3)~1×10(6)Ω.cm可设单位mV ; Ω/□ ; Ω.cm 储存量50次软件测试台控制和数据记录自动量程电流自动
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ChemTron 半导体冷却循环器
ChemTron 半导体冷却循环器详细描述温度范围: 3.0~60℃珀尔帖效应的冷却循环器,作为光学分析仪器,小型蒸馏设备的冷却装置。珀尔帖效应是基于反向热电效应,这 是一种由两种不同金属组成的
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jandel 四探针探头 Jandel probes
Jandel公司生产的cartridge型四探针探头可用在客户已有的设备,一些vekko设备,一些vekk设备需要不同形状的探头,(紧凑的探头).当您无法确定使用哪种探头时,请跟我们联络
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微电子和半导体用检验系统 DM3 XL
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OPTM 半导体膜厚测试仪
item· 绝对反射率测量· 膜厚解析· 光学常数解析(n:折射率、k:消光系数)构成图半导体膜厚测试仪OPTM 式样Specifications※ 上述式样是带有自动XY平台。※ release
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