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Serial Block-face SEM 3View图像三维重构
Serial Block-face SEM 3View肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针,与View®2XP(Gatan公司制造)结合使用,能对样品进行自动切割,自动获取
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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM
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Prisma E SEM扫描电子显微镜
能够满足各种需求。学术和工业研究实验室需要利用现代化SEM从最广泛的样品中获得大量数据,并获得出色的图像质量。同时,由于多数实验室均为多人操作或管理设备,SEM要简便易用,才能确保不同经验程度的用户
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电子探针EPMA-1720系列
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动态颗粒图像分析系统
粒子计数和图像测量可以用一台仪器来实现iSpect DIA-10提供了先进的粒子分析技术,将单个粒子的图像信息添加到精确的粒子计数中。采用宽聚焦区域的远心镜头与微流池技术相结合,可聚焦整个流路
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SEM 带扫描电镜的高温疲劳试验机
SEM高温疲劳试验机是带扫描电子显微镜的疲劳试验机。用于在疲劳试验过程中动态时实观测样品表面的微观破坏。可进行拉-拉、拉-压、三点弯曲疲劳试验及800℃以下的高温试验。
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日本电子Serial Block-face SEM 3View图像三维重构 自动获取图像
SEM 3View肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针,与View®2XP(Gatan公司制造)结合使用,能对样品进行自动切割,自动获取图像。通过对获得的图像进行三维重构
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动态图像分析系统DIA-10
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牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature
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inLux™ SEM- 拉曼联用接口
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