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台式X射线吸收精细结构谱仪
采用独有的X射线单色器设计,无需同步辐射光源,在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析,提供XAFS和XES两种测量模式。
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XAFS/XES EDS台式X射线吸收精细结构谱仪 适用于台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS
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easyXAFSXAFS/XES EDS 台式XAFS谱仪在能源存储材料研究中的应用
easyXAFS台式X射线吸收精细结构谱仪XAFS/XES 适用于台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS项目,参考多项行业标准Tailoring Energy and Power Density
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台式X射线吸收精细结构谱仪XAFS/XES easyXAFS 应用于电子/半导体
easyXAFS台式X射线吸收精细结构谱仪XAFS/XES 可以用在电子/半导体行业领域,用来检测V2O5纳米纤维,可完成台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS项目。符合多项行业标准Tailoring
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台式X射线吸收精细结构谱仪EDSeasyXAFS 可检测V2O5纳米纤维
easyXAFS台式X射线吸收精细结构谱仪XAFS/XES 用于测定V2O5纳米纤维,符合行业标准Tailoring Energy and Power Density through
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EDS台式X射线吸收精细结构谱仪XAFS/XES 应用于电池/锂电池
easyXAFSEDSXAFS/XES 适用于台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS项目,参考多项行业标准Tailoring Energy and Power Density through
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XAFS/XES 台式X射线吸收精细结构谱仪
射线源: XAFS: 1.2-kw XRD(Mo/w) XES: 100w XRF 空冷管(Pd/W)能量范围: 5-12keV; 可达19keV分辨率
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美国CANBERRA Ultra-LEGe超低能锗探测器
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