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上海伯东闪存温度测试专用高低温测试机
上海伯东 inTEST 高低温循环测试机闪存温度测试应用闪存(Flash Memory),是非挥发性内存的一种,不需电力来维持数据的储存,可分为 NOR Flash 以及 NAND Flash
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LED显示屏专用温度冲击测试机|伯东
LED 液晶显示屏环境温度测试上海伯东美国 TemptronicThermoStream 高低温测试机可与德国 AUTRONIC DMS 803 液晶显示屏测量系统联用进行 LED 环境温度测试
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局部高低温测试机Temptronic |上海伯东代理美国进口
美国 Temptronic ThermoStream 高低温测试机上海伯东中国总代理上海伯东代理美国 Temptronic ThermoStream ATS 系列高低温测试机,测试温度范围
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光模块高低温测试机|伯东 inTEST
上海伯东代理美国 inTEST Temptronic高低温冲击测试机成功应用于光模块温度测试光模块 Optical Module 由光电子器件、功能电路和光接口等组成,光电子器件包括发射和接收两部分
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光纤收发器温度冲击测试机|伯东
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电子产品温度冲击测试机|伯东inTEST
上海伯东 inTEST -Temptronic ATS-710 超高速高低温循环测试机温度范围:-80°C 至 +225°C不需要液态氮气(N2)或液态二氧化碳(CO2)冷却触摸屏式控制面板
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集成电路 IC 卡温度冲击测试机|伯东
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伯东 inTEST ATS-515 高速温度循环测试机
上海伯东美国 inTEST 高低温气流控制设备中国总代理 inTEST Thermal Solutions ATS-515 & -615 THERMOSTREAM®模拟测试温度范围:-45°C 至
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高低温冲击测试机价格
产品特点:高低温冲击测试机价格|高低温冲击试验箱厂家(三箱)的三箱设备区分为:高温区、低温区、测试区三部分,测试产品置于测试区,冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击, 测试产品为静态式。采用
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Temptronic 集成电路IC卡高低温测试机
上海伯东代理美国 inTEST-Temptronic高低温测试机用于集成电路IC卡高低温测试集成电路 IC 卡高低温测试原因:集成电路 IC 卡在出厂前必须经过环境测试,用来模拟集成电路在不同
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