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优可测透明膜厚测量仪
优可测透明膜厚测量仪,精度达0.1nm,多层膜测量---可测10层膜,毫秒级别的采样频率,比传统膜厚仪提升2~3倍,更适合在线使用,优可测支持客制化,根据客户需求定制。
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芯硅谷 数显测厚表
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芯硅谷 D6228 机械百分测厚表
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优可测膜厚仪
优可测膜厚仪,精度达0.1nm,多层膜测量---可测10层膜,毫秒级别的采样频率,比传统膜厚仪提升2~3倍,更适合在线使用,优可测支持客制化,根据客户需求定制。
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膜厚测量仪FE-3
膜厚量测仪FE-3的特点使用分光干涉法原理配置高精度FFT膜厚分析引擎(专利 第4834847号)可通过光纤灵活构筑测量系统可嵌入各种制造设备可实时测量膜厚支持远程遥控,多点测量采用长使用寿命,高
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膜厚测量仪FE-300
膜厚量测仪FE-300的特点测试范围涵盖薄膜到厚膜基于绝对反射率光谱分析膜厚小型・低价,精度高无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手外观新颖,操作性提高非线性*小二乘法,实现光学常数解析(n:折射率
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F50 光学膜厚测量仪
需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。可测样品膜层基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括:选择Filmetrics的优势• 桌面式薄膜厚度测量的全球
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芯硅谷 P1664 可灭菌塑料袋,0.045mm厚
产品介绍: 耐高温灭菌袋由高品质聚丙烯制成,可承受的灭菌温度高达132℃.非常适合存储、展示、保护和运输所有类型的产品.
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反射式膜厚测量仪FE-3000
反射式膜厚量测仪的产品特点完美对应紫外到近红外(190~1600nm)广波长范围。利用高分辨率传感器,可对应厚膜以及超厚膜样品类型:0.8~1mm利用非线性*小二乘法薄膜解析软件,可解析多层薄膜的膜
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优可测镀层厚度测量仪
优可测镀层厚度测量仪,精度达0.1nm,多层膜测量---可测10层膜,毫秒级别的采样频率,比传统膜厚仪提升2~3倍,更适合在线使用,优可测支持客制化,根据客户需求定制。
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