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IONTOF 低能离子散射谱LEIS Qtac
低能离子散射谱 Qtac-100催化反应一般只发生在材料的最表层。低能离子散射谱(Low-Energy In Scattering ,LEIS)利用具有特定能量的惰性气体离子入射到样品表面,与样品
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IONTOF LEIS Qtac低能离子散射谱 用于生物材料性能研究
低能离子散射谱(LEIS)的一个显著特点就是其超高的表面灵敏度和良好的定量性。相对于其他常见的表面分析手段,例如XPS 、 AES ,它最大的特点是可以把信息深度缩小到单原子层厚度。配合上深度剖析
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IONTOF LEIS Qtac低能离子散射谱 与多种生长设备集成
低能离子散射谱(Low-Energy Ion Scattering ,LEIS)[1]利用具有特定能量的惰性气体离子入射到样品表面,与样品表面的原子进行弹性碰撞。根据弹性散射理论,散射离子的能量分布
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IONTOF LEIS Qtac低能离子散射谱 用于分析粗糙表面材料分析
低能离子散射谱法(low energy ion scattering spectroscopy,LEIS)是2016年公布的化学名词。低能离子散射谱 Qtac-100催化反应一般只发生在材料的最表层
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牛津仪器X-MaxN硅漂移探测器 强大低能端分析
X-MaxN硅漂移探测器大面积传感器芯片,采用数字信号处理和创新封装技术,可以提供很高灵敏度,精确分析几乎所有类型的样品,包括易碎样品和纳米材料。
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Agilent 7250 GC/Q-TOF 气质联用
Agilent 7250 四极杆飞行时间气质联用系统具有广泛的动态范围,可为适用于气相色谱分析的化合物鉴定、定量和研究提供全谱、高分辨率的精确质量数据。电子轰击离子源具有低能量 EI 功能。
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IONTOF LEIS Qtac低能离子散射谱 用于于材料催化性能研究
低能离子散射被用来研究离子与固体表而的相互作用。实验证实了低能离子与固体原子的碰撞主要为弹性碰撞。低能离子散射谱 Qtac-100催化反应一般只发生在材料的最表层。低能离子散射谱
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IONTOF LEIS Qtac低能离子散射谱 用于单原子层沉积过程研究
催化反应只发生在材料的最表层。低能离子散射谱(Low-Energy Ion Scattering ,LEIS)利用具有特定能量的惰性气体离子入射到样品表面,与样品表面的原子进行弹性碰撞。根据弹性散射
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MALDI-7090高端MALDI-TOF/TOF
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低能离子散射谱LEIS QtacQtac 100IONTOF 型 低能(LEIS) 产品彩页 中文
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