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ATR衰减全反射探头
工业过程应用,曾经在10,000psig的环境下接受测试。ATR探头可以在315C的温度下工作。ATR探头是个经过三次反射的探头,并且可以穿透被测量波长的衰逝波/倏逝波。应用场景ATR
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衰减全反射探头
10,000psig的环境下接受测试。ATR探头可以在最大315C的温度下工作。ATR探头是个经过三次反射的探头,并且可以穿透被测量波长的衰逝波/倏逝波。型号规格推荐使用的光纤直径:600 µm外部
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美国CST公司 ATR衰减全反射探头
过程应用,曾经在10,000psig的环境下接受测试。ATR探头可以在最大315C的温度下工作。ATR探头是个经过三次反射的探头,并且可以穿透被测量波长的衰逝波/倏逝波。应用:ATR在实际应用中,作为
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WAVE 分子相互作用仪
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奥林巴斯IXplore TIRF 全内反射影像显微镜系统
奥林巴斯倒置显微镜IXplore TIRF同步多色 TIRF奥林巴斯 cellTIRF 系统可以真正实现最多四种波长的同步采集。对每个激光导向装置的单独电动角度控制可以产生相等的消逝波深度(±1
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衰减全反射探头
reflection,衰减全反射), ATR探头可以在最大315C的温度下工作。ATR探头是个经过三次反射的探头,并且可以穿透被测量波长的衰逝波/倏逝波。 Attenuated Total
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美国CST公司 ATR衰减全反射探头
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Leica AM TIRF MC 全反射荧光影像系统
消逝波激发样品,使样品表面70-300um厚的薄层内的荧光团受到激发,再用高灵敏度和高时间分辨率的摄像机CCD来捕捉荧光并用计算机进行显像,从而实现对生物样品观测的一种新生技术。 Leica
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ATR衰减全反射探头
设计用于工业过程应用,曾经在10,000psig的环境下接受测试。ATR探头可以在315C的温度下工作。ATR探头是个经过三次反射的探头,并且可以穿透被测量波长的衰逝波/倏逝波。应用场景ATR
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纸箱抗压试验机
直 接呼叫及列印。 ◎每次Y果可呼叫出查看及h除。 ◎附器出倍率x疋o, 可直接c器B接。 4. 速度: 5~200mm/分, B邮轿宥嗡俣惹QI, 全指示附舨倏孛姘, 四段可 5
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