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光学表面缺陷分析仪
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安东帕Nova系列比表面和孔径分析仪
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安东帕SurPASS 3固体表面 Zeta 电位分析仪
在表面分析中,固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法,从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息,并可检测表面性质中zei微小的
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安东帕SurPASS 3固体表面 Zeta 电位分析仪
安东帕SurPASS 3固体表面 Zeta 电位分析仪在表面分析中,固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法,从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有
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Lumina AT2 薄膜缺陷检测仪
Lumina AT2薄膜缺陷检测仪产品特点:实现亚纳米薄膜涂层、纳米颗粒、划痕、凹坑、凸起、应力点和其他缺陷的全表面扫描和成像。实用于透明、硅、化合物半导体和金属基底。在2分钟内扫描并显示300毫米
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Lumina AT1薄膜缺陷检测仪
Lumina AT1薄膜缺陷检测仪产品特点:实现亚纳米薄膜涂层、纳米颗粒、划痕、凹坑、凸起、应力点和其他缺陷的全表面扫描和成像。实用于透明、硅、化合物半导体和金属基底。在3分钟内扫描并显示150毫米
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表面视像缺陷检测系统
表面视像缺陷检测系统表面视像缺陷检测系统的主要优点:1、技术领先,60MHz高速行扫描CCD技术,每秒可最大扫描14,000次,防止漏验。2、独特的LED光源技术,高亮度,高寿命,低能耗。3、生产
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光学3D表面轮廓仪
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安东帕Autosorb-iQ全自动比表面和孔径分布分析仪
Autosorb-iQ,代表了业界全自动、多功能集成的高水准。诸如蒸汽吸附、动/静态化学吸附、双站并行的超微孔/超低比表面分析等等,Autosorb-iQ将要告诉您的是:只要您能想到,我就能做到!
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表面缺陷检测机 外观检
检测系统提供了多种曝光方法和数据处理算法,用于处理反射表面(例如小型电子零件)和低对比度表面(例如轮胎表面和胎侧)。以上几点就是为大家介绍的外观缺陷检测的内容,设备包括:光学筛选机,自动化检测设备
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