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芯硅谷 V5071 VSEPR理论模型
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SPM-9700HT用纳米物理检测软件
理论模型计算杨氏模量膜表层任意位置物理性质检测通过在膜表面任意位置进行力曲线测量,可测得各点吸附力的差异。对生物高分子等小而柔软的样品也可进行物理性质测定。3D分析成像技术将测得的力曲线全部保存,可
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微胶囊相变材料原位物理相态分析仪
在吸收或释放热量时改变其相态,从而维持恒定的温度,为建筑节能、电子设备冷却和个人热管理提供了创新的解决方案。 在材料科学和化学工程领域,对微胶囊相变材料的物理相态进行精确分析是至关重要的。随着技术的
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计量测试理论方法研究及系统研发
广电计量拥有丰富的计量测试理论研究及校准系统研发基础,已构建成熟的几何、热学、力学、电磁学、电子学、时间频率、电离辐射、声学、光学、化学十大计量专业计量服务能力,同时在非标计量器具计量检测方面拥有
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赛默飞 ARL 光电直读光谱仪
来料检测或金属质量控制还是成品分析,它都是您必需的得力工具。ARL iSpark金属分析仪的高可靠性足以保证全年365天、每天24小时的连续运转。火花光电直读光谱仪(OES)是应用最广泛的金属样品中元
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光电直读光谱仪 PDA-5500S
岛津光电直读光谱仪PDA-5500S 性能特点: 1)大型真空直读光谱仪 为了分析C、P、S、B等元素及保证高稳定性,采用真空型光谱室设计。与充氩气
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岛津光电直读光谱仪 PDA-8000
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光电发射光谱仪PDA-7000型
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Nexsa X射线光电子能谱仪
:离子散射谱,分析材料最表面1-2原子层元素信息,通过质量分辨可分析一些同位素丰度信息。· UPS:紫外光电子能谱用于分析金属/半导体材料的价带能级结构信息以及材料表面功函数信息
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快速分析型物理吸附仪JW-DX-02
,比表面下限降低一个数量级,非常适合电池正负极材料尤其是石墨等小比表面材料的检测。 (发明专利号201410320453.2) bet比表面积仪性能参数:仪器型号: JW-DX bet比表面积仪原理
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