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集成电路引线弯曲试验仪
集成电路引线弯曲试验仪主要用于测定集成电路产品、IC芯片、电子元器件及设备物理性能试验中引线涂覆层附着力检测以及引脚在拉力、弯曲、扭转三种作用力下的形变状态。
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超小型平移台(亚微米,15mm,已集成电路)
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赛默飞 ARL 光电直读光谱仪
来料检测或金属质量控制还是成品分析,它都是您必需的得力工具。ARL iSpark金属分析仪的高可靠性足以保证全年365天、每天24小时的连续运转。火花光电直读光谱仪(OES)是应用最广泛的金属样品中元
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光电直读光谱仪 PDA-5500S
岛津光电直读光谱仪PDA-5500S 性能特点: 1)大型真空直读光谱仪 为了分析C、P、S、B等元素及保证高稳定性,采用真空型光谱室设计。与充氩气
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岛津光电直读光谱仪 PDA-8000
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光电发射光谱仪PDA-7000型
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Nexsa X射线光电子能谱仪
Thermo Scientific™ Nexsa™ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统在提供全自动、高通量的多技术分析的同时,保持研究级的高质量分析检测结果。集成ISS、UPS、REELS、拉曼
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快速光电探头
FPS 系列快速响应光电探头用于测量激光脉冲的波形。OPHIR 探头提供快至25ps 的上升沿,覆盖193- 1700nm波长范围,并可提供衰减片、积分球等附件
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瞬态光电性能测试系统DSR800光电器件
本系统主要是针对光电器件的动力学分析,利用周期性的脉冲单色光源,产生光电流或者光电压的信号。 并对此信号进行时域或者频域的分析,得到光生电的响应时间,如上升 / 下降时间,瞬态光电流与 瞬态光电
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AXIS NOVA X射线光电子能谱仪
的快速平行X光电子实时成像,空间分辨率优于3μm,zei高像素65,536(256×256),可进行微区元素和化学态空间分布分析 专利的同轴超低能无阴影单电子源荷电中和器,完美解决
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