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分立器件静态参数测试仪系统
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STD2000分立器件参数测试仪系统
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天士立 分立器件静态参数测试系统 STD2000
测试对象:DIODE、MOSFET、IGBT、JFET、SCR、TRIAC、OPTO等25类半导体分立器件 测试项目:导通参数,截止参数,传输参数等,几乎涵盖所有静态参数 输出能力:电压MAX
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STD2000半导体分立器件静态参数测试仪系统
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半导体分立器件参数测试仪系统
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THz 元器件
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OLED/QLED发光器件寿命测试系统
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牛津仪器PlasmaPro 100 ALE原子层刻蚀
我们的设备和工艺已通过充分验证,正常运转时间可达90%以上,一旦设备安装完毕,可立即投入使用。PlasmaPro 100系列市场应用广,包括但不限于: MEMS和传感器、光电子、分立元器件和纳米技术。
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微纳器件光谱响应度测试系统
产品概述DSR300微纳器件光谱响应度测试系统是一款专用于低微材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm探测光斑,实现百微米
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电子元器件筛选
、电源监控器、电源管理等)、数模转换器(A/D、D/A、SRD)、存储器、可编程逻辑器件、单片机、微处理器、 控制器等;半导体分立器件:二极管、三极管、场效应管、达林顿阵列、半导体光电子器件等;电阻器
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沃特世国产液质联用系统首发,持续加码本土化布局
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钢研纳克携质谱新品参加2024中关村论坛
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