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半导体测试高低温设备
半导体测试高低温设备是从高温循环到低温;从低温循环到高温,从各个程序之间做循环等等.所做的温度范围供顾客随意设定及选择,循环的次数及时间也可随时供顾客设定及选择.主要适用于产业界电子、电工、电器
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半导体晶圆微操作、检验设备
视觉软件。可以根据客户不同的需求,实现对半导体晶圆进行装夹、对位、转印、清洁、检验等功能。半导体晶圆微操作、检验设备特点:系统包含完整的装夹和对位结构,可以根据客户实际需求定制控制系统和机器视觉系
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OPTM 半导体膜厚测试仪
item· 绝对反射率测量· 膜厚解析· 光学常数解析(n:折射率、k:消光系数)构成图半导体膜厚测试仪OPTM 式样Specifications※ 上述式样是带有自动XY平台。※ release
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半导体晶圆PL光谱测试系统
面向半导体晶圆检测的光谱测试系统 荧光测试荧光光谱的峰值波长、光谱半宽、积分光强、峰强度、荧光寿命与电子/空穴多种形式的辐射复合相关,杂质或缺陷浓度、组分等密切相关膜厚&反射率&翘曲度通过白光干涉
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半导体晶圆拉曼光谱测试系统
半导体晶圆拉曼光谱测试系统R1——应力、组分、载流子浓度面向半导体晶圆检测的拉曼光谱测试系统主要功能:•光穿过介质时被原子和分子散射的光发生频率变化,该现象称为拉曼散射。•拉曼光谱的强度、频移、线宽
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SPM300系列半导体参数测试仪
设备概览基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪,具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析,空间分辨率< 800nm (典型值),也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性
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高低温冲击测试机价格
产品特点:高低温冲击测试机价格|高低温冲击试验箱厂家(三箱)的三箱设备区分为:高温区、低温区、测试区三部分,测试产品置于测试区,冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击, 测试产品为静态式。采用
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柳沁科技半导体器件高低温冲击测试设备LQ-TS-80A
半导体器件高低温冲击测试设备均是常用于半导体行业及半导体产品、材料、配件做在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在最短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化及物理伤害。半导体
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高低温加载测试设备
?用途:高低温加载测试设备又名环境试验箱,试验各种材料耐热、耐寒、耐干燥、耐湿性能。适合电子、电器、食品、车辆、金属、化学、建材等行业品管之用。控制方式与特色:平衡调温调湿控制系统(BTHC),以
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保冷柜(血液复温设备价格)参数
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