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卓立汉光PL光致发光光谱测量系统
仪器简介: PL光致发光光谱测量系统介绍 (电致发光) 光致发光(photoluminescence)即PL,是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光。PL荧光光谱测量系统是用
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卓立汉光发射光谱测量系统
。发射光谱测量系统组成:分光系统+检测系统+数据采集及处理系统+软件系统+计算机系统OmniES-扫描型发射光谱测量系统OmniES-摄谱型发射光谱测量系统
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卓立汉光荧光光谱测量系统
ZLX-FS系列荧光光谱测量系统 荧光光谱测量系统介绍 在许多应用领域如材料学、生物学(叶绿素和类胡萝卜素)、生物医学(恶性病的荧光诊断)和环境应用中都需要用到荧光检测技术。荧光检测
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卓立汉光透射、反射/吸收光谱测量系统
直接打印■ 两种测量模式:波长扫描模式和定波长模式,可在高准确度和快速测量进行选择建筑玻璃透射、反射/吸收光谱测量系统 系统采用卓立汉光专利技术( 专利号:ZL 201220078394.9 一种宽
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卓立汉光宽带隙小型深紫外PL-Mapping(光致发光)光谱仪
仪器简介: 光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要测量手段。MiniPL为模块化设计、计算机自动控制的高灵敏度、宽带隙小型PL(光致荧光)光谱仪
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卓立汉光时间分辨红外吸收光谱测量系统
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卓立汉光PL光致发光光谱测量系统 应用于半导体材料领域
卓立汉光PL光致发光光谱测量系统 应用于半导体材料领域仪器简介: PL光致发光光谱测量系统介绍 (电致发光) 光致发光(photoluminescence)即PL,是用紫外、可见或红外辐射
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卓立汉光PL光致发光光谱测量系统 应用于LED发光材料领域
卓立汉光PL光致发光光谱测量系统 应用于LED发光材料领域仪器简介: PL光致发光光谱测量系统介绍 (电致发光) 光致发光(photoluminescence)即PL,是用紫外、可见或红外
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卓立汉光FLIM荧光寿命成像系统
衰减曲线,均标记在图中。对于在GaN 上生长的MQWs,点A 和B 之间的PL 衰减时间差更高。显微荧光寿命成像系统FLIM参数配置北京卓立汉光仪器有限公司提供的显微荧光寿命成像系统是基于显微和时间
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卓立汉光飞秒微加工系统
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