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卓立汉光半导体参数分析仪SPM600系列
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑,实现百微米级探测器
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卓立汉光SPM600系列半导体参数分析仪
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑,实现百微米级探测器
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卓立汉光SPM300系列半导体参数分析仪
光谱仪, 1*10-5 杂散光抑制比SPM300系列半导体参数分析仪主要应用SPM300系列半导体参数分析仪选型表型号描述SPM300-mini基础款半导体参数分析仪,只含一路532nm 激光器,常规
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SPM600系列半导体参数分析仪
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑
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卓立汉光DSi系列硅光电探测器
产品概述DSi系列硅光电探测器——室温型探测器,使用范围:200-1100nm两种型号的探测器室的外观相同,其中:● DSi200型内装进口紫敏硅光电探测器● DSi300型内装进口蓝光增强型硅光电
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卓立汉光InSb系列锑化铟探测器
产品概述InSb系列锑化铟探测器有DInSb5-De02和DInSb5-HS两个主要型号:■ DInSb5-De02为液氮制冷侧窗型,光敏面直径2mm,另有1mm、 4mm和7mm光敏面尺寸可选
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卓立汉光DPbS系列硫化铅探测器
产品概述DPbS系列硫化铅探测器常温型红外探测器,波长范围:0.8-3.2μm硫化铅探测器使用建议:■ DPbS3200硫化铅探测器为光导型近红外探测器,使用时必须配合锁相放大器,推荐使用SR830
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卓立汉光InAs系列砷化铟探测器
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卓立汉光成像光谱仪
仪器简介: Imspector系列光谱仪是一种以透射光栅为传导分光元件的成像光谱仪,根据其功能性,有标准版、增强版、快速版及热感红外版等多种选择;依据不同的使用波长范围分类。 技术参数
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卓立汉光UFP系列高灵敏度光纤耦合系统
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