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卓立汉光半导体参数分析仪SPM600系列
测试■ 瞬态光电压(载流 子迁移率)■ 瞬态光电流(载流子扩散长度)光源选项卓立汉光根据样品光谱相应范围选择适合的光源,如EQ 光源,氙灯光源,氙灯溴钨灯复合光源。EQ光源特点:■ 光谱范围宽
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卓立汉光SPM600系列半导体参数分析仪
测试■ 瞬态光电压(载流 子迁移率)■ 瞬态光电流(载流子扩散长度)光源选项卓立汉光根据样品光谱相应范围选择适合的光源,如EQ 光源,氙灯光源,氙灯溴钨灯复合光源。EQ光源特点:■ 光谱范围宽
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卓立汉光SPM300系列半导体参数分析仪
基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪,具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析,空间分辨率< 800nm (典型值),也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性分析。设备具有
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卓立汉光成像光谱仪
仪器简介: Imspector系列光谱仪是一种以透射光栅为传导分光元件的成像光谱仪,根据其功能性,有标准版、增强版、快速版及热感红外版等多种选择;依据不同的使用波长范围分类。 技术参数
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卓立汉光FLIM荧光寿命成像系统
衰减曲线,均标记在图中。对于在GaN 上生长的MQWs,点A 和B 之间的PL 衰减时间差更高。显微荧光寿命成像系统FLIM参数配置北京卓立汉光仪器有限公司提供的显微荧光寿命成像系统是基于显微和时间
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卓立汉光飞秒微加工系统
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卓立汉光双级联单色仪
Omni-λ180D 是一款经过专门设计的一体化色散相减模式双级联单色仪,是ZOLIX 的新产品。对于色散相减模式的双单色仪,两级经过专门的匹配设计和光路调校,使得只有处于原始路径的光可以实现色散相消
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卓立汉光硅光电探测器
仪器简介: 硅光电探测器(Si) ———室温型探测器,波长范围:200-1100nm 技术参数: 型号列表及主要技术指标: 技术指标\型号名称
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卓立汉光发射光谱测量系统
针对不同辐射光源的特性,可灵活选择测试系统,如:宽带光源和LED 通常分辨率要求不高,建议使用SGM100 或短焦距“谱王”、“影像谱王”系列光谱仪/ 单色仪;激光器、放电灯、等离子体、原子
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卓立汉光锑化铟探测器
仪器简介: ■ 锑化铟探测器(InSb) ———液氮制冷型红外探测器,波长范围:1~5.5μm 技术参数: 型号列表及主要技术指标: 型号/参数 DInSb5-De01
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