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双模式三维形貌仪
Aep Technology NanoMap-D双模式三维形貌仪仪器简介:NanoMap-D (双模式) 三维轮廓仪使成像提高到一个新的水平。它所具有技术竞争力在于接触式和光学三维轮廓仪的完美结合
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白光干涉三维形貌测量系统
SuperViewW白光干涉三维形貌测量系统集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。
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光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪
NANOMAP D光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门
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光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪
美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。
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普析双模式超纯水机super/GWB-2
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双模式形貌仪,轮廓仪
仪器简介: NanoMap-D双模式扫描三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以 用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。 1、三维表面结构
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三维形貌仪
仪器介绍 适用于表面轮廓和粗糙度特征的快速准确测量(计算粗糙度数据)。测量圆柱形工件内外表面的微观结构和它表面特征。以扩展的显微三维测量模式为特征,有多种选项如:放大,标记无效
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三维形貌仪
NanoMap-1000WLINanoMap-1000WLINanoMap-1000WLI三维形貌仪是非接触式三维高清图像的光学轮廓仪白光干涉仪器 - 白光干涉带来了高的分辨率、 400万像素的图像
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三维形貌仪
接触式三维形貌仪NanoMap-500LS利用扫描探针显微镜光杠杆位移检测技术和超平整参照面-大型样品台扫描技术,并与压电陶瓷(PZT)扫描完美结合,可以再不丧失精度的情况下,即得到超大样品整体三维
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三维表面形貌仪
该仪器采用白光轴向色差原理(性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪)对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量,测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌,台阶高度,给MEMS
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