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THz 元器件
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OLED/QLED发光器件寿命测试系统
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微纳器件光谱响应度测试系统
产品概述DSR300微纳器件光谱响应度测试系统是一款专用于低微材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm探测光斑,实现百微米
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电子元器件筛选
广电计量可满足各等级元器件筛选方案设计和检测需求,提供电子元器件测试、评估、质量保证的成套方案,帮助企业及时发现和剔除有缺陷、易发生早期失效的元器件,提高电子元器件的使用可靠性,保障和支撑电子装备
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电子元器件失效分析
电⼦元器件失效分析 服务范围电子元件、分立器件、机电类器件、线缆及接插件、微处理器、可编程逻辑器件、存储器、AD/DA、总线接⼝类、通用数字电路、模拟开关、模拟器件
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瞬态光电性能测试系统DSR800光电器件
本系统主要是针对光电器件的动力学分析,利用周期性的脉冲单色光源,产生光电流或者光电压的信号。 并对此信号进行时域或者频域的分析,得到光生电的响应时间,如上升 / 下降时间,瞬态光电流与 瞬态光电
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Phenom 微型电子器件插件
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超导量子干涉仪器件
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UltiMate™ 3000 半制备系统
描述建议用途 典型应用包括纯化副产物和杂质进行结构解析,纯化自然产物提取物中的化合物,以及纯化化合物库进行制药研发。推荐用于在 4.6-20 mm 内径的色谱柱上执行半制备分离。 特点工作流速范围宽
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Agilent Magnis NGS 制备系统
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