-
OLED/QLED发光器件寿命测试系统
-
压力控制器件寿命测试工装
本寿命测试装置满足GB14536.1-2008、GB14536.7-2010、IEC60730-2-6、GB9706等标准要求设计制造;本设备可用于压力敏感控制器进行机械寿命试验,外接负载试验柜则可
-
THz 元器件
-
OLED/QLED发光器件寿命测试系统
32 路系统 64 路系统OLED/QLED 发光器件寿命测试系统参数项目关键指标备注通道数量32、64、128可扩展到512 路测量模式1恒流
-
微纳器件光谱响应度测试系统
产品概述DSR300微纳器件光谱响应度测试系统是一款专用于低微材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm探测光斑,实现百微米
-
电子元器件筛选
或跌落、密封(粗检漏、细检漏 )、粒子碰撞噪声检测(PIND);●高温动态老炼、高温反偏老炼、功率老炼、恒流老炼、间歇寿命老炼;●芯片超声检测;●X射线照相。相关资质CNAS服务背景1、电子元器件是
-
模组寿命测试系统
一、平铺式模组寿命测试系统平铺式模组寿命是通过亮度计来采集发光模组的亮度变化,从而计算lifetime 的系统。平铺式模组寿命通过把亮度计搭载再由X、Y、Z 三个自动运动直线模组构成的运动平台
-
电子元器件失效分析
电⼦元器件失效分析 服务范围电子元件、分立器件、机电类器件、线缆及接插件、微处理器、可编程逻辑器件、存储器、AD/DA、总线接⼝类、通用数字电路、模拟开关、模拟器件
-
德国徕卡 即时产生寿命成像 STELLARIS 8 FALCON
(寿命):ns。 由荷兰阿姆斯特丹癌症研究所的Kees Jalink和Bram van den Broek提供。用凝血酶活化肽刺激后的钙振荡。 单个细胞中的响应被记录为寿命变化。 视频以4 pfs速率
-
瞬态光电性能测试系统DSR800光电器件
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net