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THz 元器件
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OLED/QLED发光器件寿命测试系统
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微纳器件光谱响应度测试系统
产品概述DSR300微纳器件光谱响应度测试系统是一款专用于低微材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm探测光斑,实现百微米
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电子元器件筛选
广电计量可满足各等级元器件筛选方案设计和检测需求,提供电子元器件测试、评估、质量保证的成套方案,帮助企业及时发现和剔除有缺陷、易发生早期失效的元器件,提高电子元器件的使用可靠性,保障和支撑电子装备
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电子元器件失效分析
电⼦元器件失效分析 服务范围电子元件、分立器件、机电类器件、线缆及接插件、微处理器、可编程逻辑器件、存储器、AD/DA、总线接⼝类、通用数字电路、模拟开关、模拟器件
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瞬态光电性能测试系统DSR800光电器件
。应用测量结果■ 光电器件表征上图为使用ps 激光器测试的不同类型的探测器的瞬态光电流曲线,点线是实测曲线,实线为拟合曲线。样品1 硅基探测器,样品感光面积10mm×10mm,下降时间2.99μs
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Phenom 微型电子器件插件
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超导量子干涉仪器件
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压力控制器件寿命测试工装
本寿命测试装置满足GB14536.1-2008、GB14536.7-2010、IEC60730-2-6、GB9706等标准要求设计制造;本设备可用于压力敏感控制器进行机械寿命试验,外接负载试验柜则可
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牛津仪器PlasmaPro 100 ALE原子层刻蚀 应用射频器件低损伤GaN刻蚀
我们的设备和工艺已通过充分验证,正常运转时间可达90%以上,一旦设备安装完毕,可立即投入使用。PlasmaPro 100系列市场应用广,包括但不限于: MEMS和传感器、光电子、分立元器件和纳米技术。
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