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四探针方阻电阻率测试仪
四探针电阻率/方阻测试仪,测量表面电阻,四探针电阻率/方阻测试仪 本机范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,四探针电阻率/方阻测试仪
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双电四探针方阻电阻率测试仪
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瑞柯微 普通四探针方阻电阻率测试仪
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瑞柯微 手持式四探针方阻测试仪
FT-394系列手持式四探针方阻测试仪、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》,
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瑞柯微 FT-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试仪
利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,适用于斜置式四探针对于微区的测试。
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四探针电阻率/方阻测试仪
FT-340系列双电测四探针电阻率方阻测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以
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四探针方阻电阻率测试仪
FT-346双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试
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四探针方阻 电阻率测试仪
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四探针方阻电阻率测试仪
四探针方阻电阻率测试仪1.覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜
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高温四探针电阻率测试仪
低温介电常数适用于各种液体、金属氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物质的一项重要的物理性质,通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。
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