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固体样品测试解决方案
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普析固体样品测试解决方案
普析固体样品测试解决方案体样品测试解决方案,千万分之四超低杂散光设计。主要特点:. 用户可根据需要选择 150mm 积分球附件基本型、眼镜专用检测附件和 60mm 积分球附件基本型搭 配 T10
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TOC-L用固体样品测定组件SSM-5000A
能够对固体样品中进行TOC测量 满足最大试样1g,最大30mg含碳量样品的测定,因此减少了因样品称重和样品中有机碳分布不均造成的误差
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固体原位分析专家PhAT系统
固体原位分析专家PhAT系统-独一无二 PhAT 系统固体原位分析专家是在RAMANRXN1TM的基础上革新生成的。它利用专利的PhAT技术,实现不同大面积的典型采样,突破了传统的
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顶级火焰-石墨炉原子吸收光谱仪ZEEnit700P (AAS)固体进样技术,直接测量固体或半固体样品
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安东帕SurPASS固体表面ZETA电位测量仪
仪器简介: 仪器名称:ZETA电位分析仪 研究对象:纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途:测量材料的表面电荷,了解材料表面上的电荷状况,研究材料
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固体样品测试解决方案普析通用
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固体样品测试解决方案普析通用
、粉末样品的反射、固体样品的透射和反射;- 测试领域涉及染料、纸张、布匹、塑料等颜色测量、建筑玻璃测试、眼镜测试、药品分析、生物试剂分析、材料分析等,其中独特的眼镜专用检测附件可直接检测成品眼镜。
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安东帕SurPASS 3固体表面 Zeta 电位分析仪
在表面分析中,固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法,从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息,并可检测表面性质中zei微小的
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安东帕SurPASS 3固体表面 Zeta 电位分析仪
在表面分析中,固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法,从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息,并可检测表面性质中zei微小的
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