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安东帕SurPASS 3固体表面 Zeta 电位分析仪
在表面分析中,固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法,从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息,并可检测表面性质中zei微小的
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安东帕SurPASS 3固体表面 Zeta 电位分析仪
安东帕SurPASS 3固体表面 Zeta 电位分析仪在表面分析中,固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法,从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有
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安东帕SurPASS固体表面ZETA电位测量仪
仪器简介: 仪器名称:ZETA电位分析仪 研究对象:纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途:测量材料的表面电荷,了解材料表面上的电荷状况,研究材料
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ZetaCAD固体表面Zeta电位分析仪
固体表面Zeta电位分析仪是专门用多孔塞技术直接测定流动电位/流动电流的Zeta电位分析仪,该技术适用于50μm以上的大颗粒、纤维和平坦的表面,或在一个压力梯度下电解质可以透过的曲面膜或中空纤维样品。
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固体原位分析专家PhAT系统
固体原位分析专家PhAT系统-独一无二 PhAT 系统固体原位分析专家是在RAMANRXN1TM的基础上革新生成的。它利用专利的PhAT技术,实现不同大面积的典型采样,突破了传统的
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国仪量子 国产V-Sorb 2800全自动比表面及孔径分析仪
),Langmuir法比表面积测定,t-plot图法外比表面积测定、BJH总孔体积及孔径分析,样品真密度测定; 测试范围:比表面积 0.0005(m2/g)及以上;0.35
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国仪量子 国产V-Sorb 4804全自动比表面积及孔径分析仪
等温线测定,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,t-plot图法外比表面积测定、BJH总孔体积及孔径分析,样品真密度测定; 测试范围
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国仪量子 国产V-Sorb 4800全自动比表面积及孔径分析仪
等温线测定,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,t-plot图法外比表面积测定、BJH总孔体积及孔径分析,样品真密度测定; 测试范围
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国仪量子 国产V-Sorb 2800P全自动比表面及孔径分析仪
; 测试功能:吸附及脱附等温线测定,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,t-plot图法外比表面积测定,BJH总孔体积及孔径分析,样品真密度测定,DR
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国仪量子 国产V-Sorb 2800TP全自动比表面积及孔径分析仪
; 测试功能:吸附及脱附等温线测定,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,t-plot图法外比表面积测定,BJH总孔体积及孔径分析,样品真密度测定,DR及
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