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基于圆柱面的白光干涉仪
基于圆柱面的白光干涉仪大型快速的3D白光干涉测量使用高精度的压电马达全电动系统可用于直径从70mm的不同气缸使用MountainsMap影像地形分析数据 可选:标准化工作的特殊评测
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Xper WLI 白光干涉仪
Xper WLI 白光干涉仪 Xper WLI 白光干涉仪Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器
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芯硅谷E1626 圆柱型耳塞,
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白光干涉仪
通用 • 高度精密 • 快速 • 稳健可靠 • 自动拼接 白光干涉法是一个确定地形和表面光滑粗糙的方法。测量精度可达到近似纳米理论上无限的高度范围。这款白光干涉仪能够用来测量和分析样本的
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白光干涉仪
仪器简介: 德国FRT测量系统(白光干涉仪)应用于所有类型的表面测量分析。采用一个或多个传感器高精密地测量轮廓,表面粗糙度,平面度、平行度以及形貌特征和薄膜厚度等。适合
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WLI Lab 白光干涉仪
3D图像,对图像缩放、钉合、标记无效值、选择视场等操作。 测量和评估软件可自动测量,用户可从表面图像中选取和处理轮廓线。 主要用途: ◆ 粗糙和光滑表面的显微研究和测试 ◆ 产品凸凹
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WLI LA 白光干涉仪
WLI LA 白光干涉仪 本仪器比以往的显微镜可测面积大得多,使用者需在大测量面积和大数值孔径之间进行适当平衡。数值孔径决定了横向分辨率和可测量的微观/宏观表面倾斜程度。选择
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Rtec-白光干涉仪
白光干涉仪概述Rtec 白光干涉仪在加利福尼亚硅谷制造。已被多个知名实验室、大学和行业使用。UP系列在一个头上组合了4种成像模式。能够在同一测试平台上运行多种测试,只需单击按钮,就能转换成像模式
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solarius Polaris白光干涉仪
稳定的结构设计以及高度的集成化使得Polaris能够胜任在生产线及严苛的工业环境。Polaris专注于快速准确测量。Polaris白光干涉仪支持多种3D传感器,适用于各种类型的材料表面测量,包括高
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德国徕卡 STELLARIS白光激光器
STELLARIS新一代白光激光器(WLL)与我们提供的Power HyD探测器系列中最佳匹配的探测器相结合,使您可自由选择所有光谱,并准确组合适当的探针来解答您的实验问题。
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