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HORIBA 能散型XRF堀场HORIBA 可检测金属颗粒
堀场HORIBAHORIBA XGT-7200V X射线分析显微镜参考多项行业标准0。完成金属颗粒的检测。可以用在地矿/有色金属行业领域中的颗粒分析(光学图像,元素图像)项目。 结合光学图像,高速
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HORIBA 堀场HORIBA能散型XRF 适用于元素分析
堀场HORIBAHORIBA XGT-7200V X射线分析显微镜适用于元素分析项目,参考多项行业标准0。可以检测单稻谷谷粒等样品。可应用于粮油/豆制品行业领域。 结合光学图像,高速高准确度进行
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HORIBA 能散型XRF堀场HORIBA 应用于电子/半导体
堀场HORIBAHORIBA XGT-7200V X射线分析显微镜适用于元素分析项目,参考多项行业标准0。可以检测电器部件等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 产品特点SDD 检测器,无需液氮双
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HORIBA 能散型XRF堀场HORIBA 应用于地矿/有色金属
堀场HORIBA能散型XRFXGT-7200V X射线分析显微镜参考多项行业标准0。完成花岗岩,金伯利岩的检测。可以用在地矿/有色金属行业领域中的元素检测项目。 产品特点SDD 检测器,无需液氮双
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HORIBA 堀场HORIBA能散型XRF 适用于品质控制,缺陷分析
堀场HORIBA能散型XRFXGT-7200V X射线分析显微镜用于测定树脂嵌入式芯片,柔性电路板,多层印刷版,符合行业标准0。适用品质控制,缺陷分析项目。 结合光学图像,高速高准确度进行元素测量
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堀场HORIBAHORIBA 能散型XRF 可检测花岗岩
堀场HORIBAHORIBA XGT-7200V X射线分析显微镜适用于元素检测项目,参考多项行业标准0。可以检测花岗岩,金伯利岩等样品。可应用于地矿/有色金属行业领域。 产品特点SDD 检测器
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堀场HORIBAHORIBA 能散型XRF 适用于元素分析
堀场HORIBA能散型XRFXGT-7200V X射线分析显微镜参考多项行业标准0。完成桑叶的检测。可以用在多个行业领域中的元素分析项目。 结合光学图像,高速高准确度进行元素测量,无需前处理
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理学NEX DE 落地式能散型XRF
X射线荧光光谱仪(X-ray Fluorescence Spectrometer,简称:XRF光谱仪),是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光(XRF)是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时
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堀场HORIBAHORIBA 能散型XRF 微区XRF在地质上的应用
堀场HORIBA能散型XRFXGT-7200V X射线分析显微镜适用于元素检测项目,参考多项行业标准0。可以检测花岗岩,金伯利岩等样品。可应用于地矿/有色金属行业领域。 结合光学图像,高速高准确度
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能散型XRFHORIBA 堀场HORIBA 可检测文物,艺术品
堀场HORIBA能散型XRFXGT-7200V X射线分析显微镜适用于元素检测项目,参考多项行业标准0。可以检测文物,艺术品等样品。可应用于涂料行业领域。 结合光学图像,高速高准确度进行元素测量
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