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In-situ series 在线椭偏仪
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UVISEL 2 VUV 真空紫外椭偏仪
专为VUV 测量设计,整个系统处于真空状态,无氧气吸收。具备高度准确性;独一无二的超快测量速度;快速样品室抽真空能力,方便快速更换样品;氮气消耗量少。
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HORIBA.AutoSE.全自动快速椭偏仪
一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。
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HORIBA UVISEL Plus研究级经典型椭偏仪
仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变,通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等,可测厚度范围为几埃至几十
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HORIBA UVISEL Plus研究级经典型椭偏仪
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Film Sense FS-1™多波长椭偏仪
Film Sense FS-1™多波长椭偏仪Film Sense FS-1™多波长椭偏仪采用寿命长 LED 光源和非移动 式部件椭偏探测器,可在操作简单的紧凑型椭偏仪中实现快速和可 靠地薄膜测量
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椭偏仪堀场HORIBAUVISEL 可检测AIN
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可用于测定AIN,适用于光学特性项目。并且参考多项行业标准0。可应用于电子/半导体行业领域。 技术参数
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HORIBA Smart SE智能型多功能椭偏仪
多功能性设计,配置灵活,具备多角度测量能力,可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单,快速,精确表征和分析的工具。
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HORIBA Smart SE智能型多功能椭偏仪
多功能性设计,配置灵活,具备多角度测量能力,可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单,快速,精确表征和分析的工具。
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椭偏仪堀场HORIBAUVISEL 可检测GeSb膜
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可以用在电子/半导体行业领域,用来检测GeSb膜,可完成厚度,光学常数项目。符合多项行业标准0。 仪器简介: 椭圆偏振
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