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几何量仪器计量
几何量一般称为长度,主要校准几何实体的大小、长短、形状和空间位置等几何特征量。 服务项目可开展量块、光学仪器、精密量仪及设备、线纹类器具、通用量具、各类量规、角度、表面
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EPMA-8050G电子探针显微分析仪
创新点 实现微区超高灵敏度分析的先进技术 1. 高亮度肖特基发射体场发射电子枪采用的肖特基发射体比一般传统SEM使用的发射体针尖直径更大,输出更高。即可以保持其高亮度
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晶圆几何形貌测量设备
WD4000晶圆几何形貌测量设备集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组,使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。
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显微分光膜厚仪
OPTM 系列显微分光膜厚仪头部集成了薄膜厚度测量所需功能通过显微光谱法测量高精度绝对反射率(多层膜厚度,光学常数)1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外)区域传感器的安全机制易于
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高精度几何量测影像仪
中图高精度几何量测影像仪智能化和自动化程度高,使测量变得简单。结合专用测量软件对测绘要素数据进行处理、评价和输出。在保证精度的前提下,测量效率更高。
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无图晶圆几何量测系统
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WD4000晶圆几何量测机
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HORIBA XGT-9000 X射线显微分析仪
应对外来物质分析和元素分布检测的解决方案。 运用强大的“快速分析模式”和“细节分析模式”,对外来物质分析,XGT-9000作为单一一台仪器即能迅速完成筛查和形状确认。
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隔膜微分离器Jones
隔膜微分离器Sepor Micro Riffle Splitter(Jones Type)描述:Sepor Micro Riffle分离器(Jones型)也被称为riffler或riffle
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JXA-iSP200电子探针显微分析仪
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