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Thermo Scientific Quasor 电子背散射衍射
使用 Thermo Scientific™ QUASOR™ 电子背散射衍射同时轻松获得 EBSD 数据和 EDS/WDS 全谱图像。 QUASOR 电子背散射衍射用于表征晶体结构特征,该特征决定了
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大塚电子小角激光散射仪PP-1000
小角激光散射仪 PP-1000 PP-1000小角激光散射仪利应用了小角光激光光散射法(Small Angle Laser Scattering,简称SALS),可以对高分子材料和薄膜进行原位
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Thermo Scientific Quasor 电子背散射衍射
使用 Thermo Scientific™ QUASOR™ 电子背散射衍射同时轻松获得 EBSD 数据和 EDS/WDS 全谱图像。
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大塚电子膜厚仪FE-300
FE-300膜厚仪产品特点●测试范围涵盖薄膜到厚膜●基于绝对反射率光谱分析膜厚●结构紧凑,精度高,台式经济型●操作简单●非线性最小二乘法实现折射率和消光系数解析适用范围●多层膜●非干涉膜●超晶格结构
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大塚电子粒度仪ELSZ-2000
zeta电位·粒径·分子量测量系统大塚ELSZ-2000可测量低浓度溶液~高浓度溶液的ZETA电位、粒径及分子量。粒径测量范围(0.6nm~10μm),浓度范围(0.00001%~40%)。实测电气
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大塚电子椭偏仪FE-5000
Δ)·提供膜厚管理膜质管理有用的信息通过400ch以上的多通道光谱法,迅速测量椭圆光谱·可实现一分钟以内的高速测量·光谱点多,所以坡度大的椭圆光谱也可正确测量利用多波长光谱仪实现高精度高感度测量测量
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大塚电子光纤光谱仪MCPD9800
高精度光谱仪MCPD—9800MCPD-9800为瞬间多通道测光检测器MCPD系列的最高级机型,与本公司以往的机型相比,实现了宽动态范围、低杂散光功能、以及更高速、高重现性。最适合以高精度的紫外线定量
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大塚电子量子效率测量系统QE-2000
量子效率测量系统QE-2000产品特点:*瞬间测得绝对量子效率(绝对量子产额)*可去除激发荧光光谱*积分半球系统,实现高亮度测量(专利技术)*低杂光多频分光检出器,大幅度减少紫外域杂光*专用软件
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日本大塚电子zeta电位测量仪ELSZ
zeta电位·粒径·分子量测量系统大塚ELSZ-2000可测量低浓度溶液~高浓度溶液的ZETA电位、粒径及分子量。粒径测量范围(0.6nm~10μm),浓度范围(0.00001%~40%)。实测电气
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大塚电子显微分光膜厚仪OPTM
显微分光膜厚仪OPTM SERIESOPTM显微分光膜厚仪是FE-3000反射分光膜厚计的第二代产品。OPTM沿用分光干涉法,可测量绝对反射率、多层膜厚、折射率和消光系数,纳米级测量,精度高。OPTM
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