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大面积快速扫描轮廓仪
μsprint的传感器每秒运作8000次,它的运作类似于线检查相机。正因为传感器的高采样率,可以以高速移动的物体或传感器,从而可以在很短的时间内进行大面积扫描。所有采集的高度和强度数据被合并成一个3D
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激光扫描轮廓仪
measurement points 主要特点: μScan采用模块化设计,特点是快速测量、不接触、不破坏、自动化 μScan的中心部件扫描模块(x/y方向样品扫描)可以和不同的传感器
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NanoFocus μScan(激光扫描轮廓仪)
AF2 自动对焦(Autofocus) 借由探测器的回馈讯号调整物镜位置,得到待测物焦点,而获得待测物的确实高度(如下左图)。 CF4 共轭焦(Confocal, Laser
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快速扫描测量系统
快速扫描测量系统整合了TSL 可调谐激光器、MPM 光功率计、PCU 偏振控制器及根据用户需求自定义的软件,为R&D 及生产环境的IL、WDL、PDL 测试提供快速、多功能、全自动的平台
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牛津仪器快速扫描电容显微镜(SCM)
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AMPTEK 70mm2 大面积FASTSDD 探测器
特点 123 eV FWHM Resolution @ 5.9 keV 高计数率 >1,000,000 CPS 超高峰背比 - 26,000:1 Be window (0.5mil) 或可以配套
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帕克 NX-Hybrid WLI 全自动工业 WLI-AFM 系统
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牛津仪器X-Max TEM 大面积硅漂移探测器
Ultim Max TLE是 牛津仪器TEM系列的旗舰款SDD能谱探测器,经过设计优化,提高了小束斑下的计数率,可表征原子尺度的元素信息。
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Profilm 3D光学轮廓仪
Profilm3D 光学轮廓仪 低成本 – 高精度Filmetrics让3D光学轮廓测量的价格变得更加能够接受。Profilm3D使用先进的垂直干涉扫描(WLI)与高精度的相位干涉(PSI)技术
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纳米表面轮廓仪
纳米表面轮廓仪 纳米表面轮廓仪IMOS纳米表面轮廓仪实现了精确、定量、iso兼容、非接触式表面测量和表征微和纳米尺度的表面特征,在短短几秒钟内可捕获多达200万
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