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天士立 环境老化试验系统 ST-HTXB
适用于各种封装类型的 Diode、BJT、MOS-FET、SCR、桥堆、IGBT 单管/模块、IPM 模块等环境老化试验
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天士立 自动精密在线高低温试验箱 Wen-ZX
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天士立 IGBT功率循环试验系统 ST-PCX
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天士立 分立器件静态参数测试系统 STD2000
测试对象:DIODE、MOSFET、IGBT、JFET、SCR、TRIAC、OPTO等25类半导体分立器件 测试项目:导通参数,截止参数,传输参数等,几乎涵盖所有静态参数 输出能力:电压MAX
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天士立 变温气流仪&热流仪 Wen-QLX
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天士立 温度/湿度/振动综合环境试验箱 Huan-VX
通过蜗轮蜗杆(无线遥控)对工作室箱体上下升降和平台的左右移动来配合振动台的水平或垂直台面,进行综合性能的试验。 由温湿度试验箱和电动振动试验系统组合而成。 可配合低气压试验箱进行四综合设计
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天士立 晶体管动态参数测试系统 ST-AC1200
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天士立 晶体管动态特性测试系统 ST-AC1200
测试种类:Si(SiC/GaN)IGBT , Diode , MOSFET(选配BJT) 输出能力:电压最大1200V(选配2000V);电流最大100A(可扩展200A/300A/500
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天士立 IGBT模块动静态全自动产线 TSLT-AL
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可控温立型环境老化湿热试验箱直销厂家 广皓天SMB-80PF
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