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ATGX310涂镀层及薄膜测厚仪奥谱天成
ATGX310系列光学薄膜厚度测量仪产品概述光学薄膜厚度测量系统,利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。适用于测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能
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在线镀层测厚仪
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薄膜,片材在线测厚仪
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X荧光镀层测厚仪
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奥谱天成OPTOSKY SM280 自动显微薄膜厚度测绘仪
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奥谱天成OPTOSKY SM200 光学薄膜厚度测量仪
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奥谱天成OPTOSKY SM230 自动光学薄膜厚度测绘仪
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涂镀层测厚仪
产品简介:Qnix8500涂层测厚仪(无线探头)是德国*新推出的全球一款探头可与主机无线传输的产品,测量时主机和探头可以实现无线通讯,这样在实际应用中,操作将更加便捷,大大提高测量效率,另外由于探头
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涂镀层测厚仪
MiniTest 600涂层测厚仪是一款耐用、经济的统计型涂层测厚仪,用于钢铁上的所有非磁性涂层镀层以及非铁金属(铝、锌、铜等)上的所有绝缘涂层。专为无损、快速、精确测量涂层厚度而设计。
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涂镀层测厚仪
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