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尼康聚光器
型号MicroscopesNAObject distance (mm)Recommended magnificationDimensionsWeight (g)*C-AB 阿贝聚光镜Ni-E
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EST-L 主动式防震系统
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mini 桌上型主动式隔振台
mini 桌上型主动式隔振台全新设计,更易使用,卓越的隔振性能。重要特征*空间6自由度主动减振-拥有全频段出色的抗振动效果,同时没有共振*LCD-加速度时间波形显示/加速度频谱显示*洁净室兼容设计
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KLA 纳米力学测试仪iMicro
纳米力学测试仪 iMicro灵活易用的力学测试可广泛用于各种材料和应用iMicro专为压痕、硬度、划痕测试和多元化纳米级测试等纳米级力学测试设计。iMicro具有多量程加载驱动器,实现在宽泛的荷载和
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P-7 台阶仪
P-7 Stylus Profiler产品描述P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需
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P-17 台阶仪
P-17 Stylus Profiler P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需
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F10-RT 薄膜厚度测量仪
F10-RT薄膜厚度测量仪同时测量反射和透射以真空镀膜为设计目标,F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分,用户就能进行低/高分析、确定 FWHM 并进行颜色分析
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EST-58-450 主动式减震台
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HORIBA UVISEL Plus研究级经典型椭偏仪
仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变,通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等,可测厚度范围为几埃至几十
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HORIBA.AutoSE.全自动快速椭偏仪
一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。
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2023仪器产业营收超1万亿,这些仪器公司增长显著
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