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开尔文探针扫描系统
仪器简介:开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置,用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface
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NT-MDT 开尔文探针显微镜
技术参数:在大气环境下:扫描隧道显微镜/ 原子力显微镜(接触 +半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/力谱线/粘附力成像/磁力显微镜/静电力显 微镜/扫描电容显微镜/开尔文探针显微镜
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电子探针EPMA-1720系列
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SPM-9700HT扫描探针显微镜
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扫描探针显微镜 SPM-9700型
SPM-9700 清晰的观察图像 SPM-9700在基本观察功能的基础上融入了更强的测量功能,具备了卓越的信号处理能力,加上zei先进的VBDF功能,数字处理能力比
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岛津DPiMS-2020原位探针离子化质谱仪
岛津原位探针离子化质谱仪DPiMS-2020 是基于岛津单四极质谱分析仪LCMS-2020同时配备探针电喷雾离子源为一体的新型质谱分析仪。该仪器通过精密的探针取样式设计在无需样品制备的情况下实现
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岛津DPiMS-2020原位探针离子化质谱仪
岛津原位探针离子化质谱仪DPiMS-2020 是基于岛津单四极质谱分析仪LCMS-2020同时配备探针电喷雾离子源为一体的新型质谱分析仪。该仪器通过精密的探针取样式设计在无需样品制备的情况下实现
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普林斯顿VersaSCAN微区电化学测试系统
Technique (SVET) 扫描振动电极测试Scanning Kelvin Probe (SKP) 扫描开尔文探针测试Localized Electrochemical Impedance
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岛津场发射电子探针EPMA-8050G
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岛津原位探针电喷雾离子源DPiMS-8060
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