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德国徕卡 STELLARIS白光激光器
STELLARIS新一代白光激光器(WLL)与我们提供的Power HyD探测器系列中最佳匹配的探测器相结合,使您可自由选择所有光谱,并准确组合适当的探针来解答您的实验问题。
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芯硅谷 数显测厚表
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徕卡显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统
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Xper WLI 白光干涉仪
Xper WLI 白光干涉仪 Xper WLI 白光干涉仪Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器
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芯硅谷 D6228 机械百分测厚表
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白光干涉三维形貌测量系统
SuperViewW白光干涉三维形貌测量系统集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。
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白光干涉三维光学轮廓仪
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中图白光干涉三维轮廓仪
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德国应用光谱白光干涉膜厚仪
发射信号可连接到几乎每个真空室无需维护舒适和易于使用的PEM—ProVis专业版软件用于全球主要的汽车灯以及CD生产商进行有机膜厚测试
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日立白光干涉显微镜VS1800
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